您好!欢迎光临苏州锐纳微光学有限公司,我们竭诚为您服务!

成熟的光学解决方案

打造优质的显微镜设备供应商

服务咨询热线:

15370055507
当前位置:主页 > 新闻动态 > 行业新闻 >

XRF镀层测厚仪简单介绍

  • 发表时间:2021-02-24 16:45:35
  • 来源:未知
  • 人气:
XRF镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
XRF镀层测厚仪镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用*广泛的测厚仪器。

推荐产品
  • OLYMPUS BX53M OLYMPUS BX53M
    为工业和材料学应用而设计 BX53M系列采用了模块化设计,为广泛的材料学和工业应用提供了多样化的解决方案。BX53根据工业和材料学的不同应用,可以组合
  • OLYMPUS OLS5000 OLYMPUS OLS5000
    LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜配备的两套光学系统(彩色成像光学系统和激光共焦光学系统)让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。 LEXT OLS500
  • OLYMPUS SZ61 OLYMPUS SZ61
    SZ61/SZ51立体显微镜详细介绍: 小型设计和卓越的光学性能并存 格里诺光学系统光路图 搭载了独有的格里诺(Greenough)光学系统,同时实现了大范围的变焦
  • Nikon LV150N Nikon LV150N
    尼康金相显微镜LV150NL身采用模块化制造可满足多领域的工业应用,尼康Nikon显微镜价格 组成 ,金相显微镜的价格组成很复杂牵涉到的部件和购买因素也很