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XRF涂镀层测厚仪

产品分类: XRF涂镀层测厚仪

我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用可以在无需样品制备的情况下提供易于操作,快速和无损的分析。可分析固体和液体,元素范

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我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作,快速和无损的分析。可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的14Si到92U。
MAXXI 6针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案。MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱,是最佳功能性与最高检测精度兼备的理想工具。
亮点:
· 采用微聚焦X射线光管,实现高精度,高可靠性,测量时间短,购置成本低
· 采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)
· 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率
· 开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品
· “USB接口 ”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件
· 德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性
· 通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准
· 最多同时测定5层,15种元素及共存元素的校正
· 同时实现多于25种元素的定量分析
· 检测方法通过ISO3497,ASTM B568,DIN50987和IEC 62321等认证
· 对ROHS和贵金属进行工厂预装校准(可选)

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